horiba科學儀器事業部發布horiba nano raman系統新品
發表時間:2019-09-17 09:28:42 作者:雕刻機

horiba科學儀器事業部發布horiba nano raman系統新品

随着掃描探針顯微鏡(spm)在二十世紀八十年代的出現,大氣環境中的納米尺度成像成為了可能。該技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續的發展,然而如何實現納米尺度的的化學結構表征仍是一項挑戰。

拉曼光譜為分子結構和化學組分分析提供了有效的解決方案,廣泛應用于材料科學和生命科學領域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射極限。

因此,将這兩種技術結合是極富吸引力和挑戰性的,引領我們進入納米光學的世界。在該領域,horiba scientific 通過幾十年的經驗積累和努力,開發了一套 nanoraman 的整體解決方案,使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。

nano ramantm

1

重要特征

1多種樣品分析平台

高分辨樣品掃描器,掃描樣品面積從納米尺寸至樣品台極限

2簡便易操作

全自動操作,極大縮短了測試時間

3真共聚焦

高空間分辨率,自動成像平台,多種顯微鏡可視觀察系統

4高靈敏度

最多隻有三面反射鏡,靈敏度和光通量得到極大提高,提高設備穩定性

5高光譜分辨率

多光栅自動切換,寬的光譜範圍用于拉曼和 pl 測試

6納米尺度空間分辨率

通過針尖增加拉曼光譜 (ters) 成像,實現 10nm 的空間分辨率

7多種測試模式 / 多種環境

多種 spm 模式,包括 afm、導電 afm、開爾文、stm 模式,可以子在液體和電化學環境下測試,通過 ters 和 tepl 技術,可同時獲得化學信息成像通過一台電腦即可控制及使所有功能。另外,spm和光譜儀也可以單獨控制使用

8穩定性

采用新一代 50 khz 高頻調制 spm 掃描器,遠離生活噪聲,具有高信噪比和穩定性

9靈活性

具有頂部、底部、側向等多個方向拉曼探測能力,滿足各方面應用研究需求

2

強有力的的物理、化學結構表征工具

1功能強大

·可同時進行 spm 和拉曼光譜測試

·頂部和側向均可使用高數值孔徑 ×100 物鏡,使得同區域測量能獲得更高的空間分辨率,針尖增強拉曼 (ters) 具有高的信号收集效率

·通過 swift xs 和 emccd 探測器可以實現高通量信号收集能力和快速掃描速度

·寬光譜範圍:從深紫外到近紅外

·可選配 horiba 拉曼光譜儀系統以獲得高光譜性能

2操作簡單、快速!

·一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光”對準及調諧頻率優化,無需手動調整

·換針尖時無需移動樣品,換完針尖後還能很容易回到原來樣品位置

·通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 ters 針尖耦合

·通過一台電腦即可完全控制

3

操作簡單的ters系統

01穩定的 afm-ters 針尖

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統,同omnitm型号的 ters 探針,可同時獲取樣品表面形貌和 ters 光譜。

horiba 的 nanoraman 系統結合 omnitm的 ters 針尖提供了理想的增強方案。

·适用不同方向的 ters 耦合 : 頂部、側向和底部

·多層結構:針尖優化最小化的減少矽襯底中光譜幹擾

·惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命

·具有特殊保護層的 ag 針尖能夠防止大氣環境下氧化

02如何實現 ters

在 ters 系統,拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2,選擇合适的激發波長,在針尖十幾納米附近産生局域等離子體共振效應3,拉曼信号強度和局域電場成正比,增強的熱點和樣品接近就會極大地增強樣品的拉曼信号,達到 105 或者 1064。

03什麼是同區域成像

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為一套系統,同區域成像測試是在同一個區域内同時或者連續獲得 afm 圖和拉曼成像圖。

afm 和其他的 spm 技術如 stm, 音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌,力學性能,熱學性能,電學和磁學性能以及分子分辨率測試,另一方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學信息,受到空間分辨率的限制。

04可驗證的 ters 樣品

horiba 提供一系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯,适當的分散可以做 ters 成像。樣品用來展示 afm 的分子分辨率,通過 ters成像展示 20 nm 的空間分辨率。

4

集成化軟件——一個軟件控制 nanoraman的數據采集

·集成化軟件:一個軟件即可控制nanoraman 整個平台(包括單獨afm、拉曼、光緻發光、同區域成像測試和 ters)

·強大的 labspec6 軟件:集成多變量分析模塊,一鍵完成pca,mcr,hca,dca 分析

·獨有的 spec-top 成像模式:spec-top為特有的輕敲模式,根據設置的步進輕敲樣品,這樣既保留了針尖的尖銳度,也提高了 ters 信号的放大倍數。

·dual-spec 模式:dual-spec 可以同時獲得近場增強信号和遠場拉曼信号,基于差譜的方法扣除遠場拉曼信号,獲得高空間分辨率的 ters 成像圖

多變量分析:全矩形掃描區域會消耗大量時間,可以在 afm 圖上選擇不規則區域來做成像

·曲線圖:力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布,力學常數

創新點: